测量振荡器中的电源噪声排斥

两家公司将介绍和演示来自Epson的SG3225EEN低噪声差异晶体振荡器的数据，并通过ROHDE＆SCHWARZ在DesignCon 2020上的R＆S FSWP相位噪声分析仪测量，在1月28日至30日在加利福尼亚州圣克拉拉举行。

抖动会对数字通信系统中的位错误率产生负面影响。组件制造商通常仅在产品规格的理想条件下测量振荡器的抖动。当应用于实际系统时，由于噪声源（例如在实验室环境中有意最小化的电源噪声），抖动通常高于指定组件的抖动。缺乏与外部资源相关的规格，因此很难从数据表中选择最佳的振荡器。Epson和Rohde＆Schwarz的论文提出了测量技术，以使用常用的测试和测量设备来量化电源噪声对抖动的贡献。

爱普生SG3225EEN晶体振荡器的子任务100 femtosecond phase jitter performance to enable the low bit error rates required for ever-increasing data rates in today’s networking equipment. The unique combination of low phase noise, small form factor and exceptional power supply noise rejection (PSNR) helps solve signal integrity challenges in real-world systems deployed in today’s networks.

R＆S FSWP相位噪声分析仪和VCO测试仪基于创新的数字解调概念，提供同时的相位噪声和振幅噪声测量。通过R＆S RTO2000示波器生成并测量人造电源噪声。凭借其内置功能和任意波形生成器以及专用的电源导轨探头，带有定义振幅的正弦电源噪声注入了振荡器的功率导轨。电源引起的相位噪声和抖动是由R＆S FSWP测量的，证明了SG3225EN晶体振荡器的出色PSNR性能。

爱普生 -www.epson.com

Rohde＆Schwarz -www.rohde-schwarz.com