欧洲最大的独立半导体测试设施现在ISO 9001：2015认证
普雷斯托（Caen）的现场总监Alban Colder博士说：“我们拥有广泛而全面的半导体测试设备。”“这包括在从晶圆，到模具到最终包装的设备的每个阶段进行测试。作为ISO 9001：2015质量标准的一部分，我们拥有多种用于非破坏性分析的设备，例如X射线检查包装和粘结，以及在设备内部查看以检查分层，空隙和破裂的硅内部的超声波检查。还有设备可以通过光发射或热激光刺激来检查故障定位，并进行深层物理分析，即逐层剥离设备，以确切查看失败的位置以及原因。其他先进的设备，例如原子力显微镜或扫描电子显微镜，用于揭示芯片结构的精确细节，以下到几纳米。”
The key part of a quality system in semiconductors industry, is traceability. Detailed record keeping traces every wafer, every operation, every die and every test. Thus, in the event that there is a faulty chip in the field, it can be traced back to try and determine the cause and to see if any other chips have been affected that might necessitate a recall. In the case of an automotive recall, this could be very expensive so it is vital to be able to narrow the problem down to only the affected chips.
普雷斯托（Presto）的销售副总裁马丁·金登（Martin Kingdon）补充说：“我们已经组装了一套最先进的设备，这是我们对质量和新标准的承诺的一部分。一旦他们为我们提供了涵盖芯片制造和测试过程的每个阶段的设计，我们就会为客户提供全面的服务。作为对客户质量保证的一部分，我们在每个阶段都严格测试。这样的全面测试和故障分析能力在一个屋顶下都非常罕见。通常，它需要许多不同的测试室，这意味着可能会错过问题。将所有技能和设备一起放在一个地方意味着我们可以继续搜索，直到找到问题的原因，以便可以解决并保持质量。”
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